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澤攸電鏡高分辨率成像的電鏡 澤攸電鏡以高分辨率成像為核心優勢,采用場發射電子槍,電子束亮度高、束斑小,能捕捉到更細微的微觀結構。電子槍真空度達到 1×10??Pa,減少了電子與氣體分子的碰撞,延長了電子槍的使用壽命。
澤攸電鏡集成化分析的電鏡系統 在半導體行業,EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測,快速定位劃痕、污染等問題;在材料科學領域,能觀察復合材料的界面結構,分析相分布情況;在地質研究中,可識別礦物顆粒的微觀形態,輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準的成像效果,為各領域的研究與生產提供了有力支持。
澤攸電鏡兼顧效率與細節的電鏡 在半導體行業,EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測,快速定位劃痕、污染等問題;在材料科學領域,能觀察復合材料的界面結構,分析相分布情況;在地質研究中,可識別礦物顆粒的微觀形態,輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準的成像效果,為各領域的研究與生產提供了有力支持。
澤攸電鏡微觀世界的清晰窗口 澤攸 電鏡作為一款基礎型掃描電鏡,在材料表面觀察領域有著廣泛的應用。其核心電子光學系統采用高品質磁透鏡,通過多層線圈纏繞技術,形成均勻的磁場分布,為電子束的聚焦提供穩定條件。
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