澤攸電鏡 以多功能性滿足多樣化研究需求,其集成了掃描電鏡(SEM通過更換樣品臺與探測器即可實現不同模式的切換。
作為 SEM 使用時,加速電壓 5 - 50kV,二次電子分辨率 2.0nm;切換至 TEM 模式后,可對薄樣品進行觀察,點分辨率達 0.2nm,晶格分辨率 0.14nm。設備配備高角度環形暗場探測器(HAADF),能通過原子序數襯度成像,清晰觀察納米顆粒的分布。澤攸多功能電鏡的實用之選
機械結構采用大理石底座,有效吸收外界振動,保證高倍成像時的穩定性。電子光學系統的透鏡采用無磁材料制造,減少磁場對電子束的干擾。參數表中顯示,其最大樣品傾斜角為 60°,適合進行動態原位觀察,如材料在拉伸過程中的微觀結構變化。
參數方面,放大倍數 200 - 2,000,000 倍,樣品臺可實現 ±30° 傾斜與 360° 旋轉,便于觀察樣品的立體結構。使用時,通過軟件可聯動控制電鏡與 EDS 系統,一鍵完成成像與成分分析的切換。
在航空航天材料檢測中,可用于分析渦輪葉片的氧化層成分;在地質研究中,能識別礦物顆粒中的微量元素分布,為多領域研究提供微觀結構與成分的關聯數據。
使用說明強調了模式切換的操作規范:更換樣品臺時需關閉電子槍,待真空破壞后進行操作,重新抽真空至規定值方可繼續工作。適用于跨學科研究,如在新能源領域,既能觀察電池電極的表面形貌,又能分析電極材料的晶體結構。澤攸多功能電鏡的實用之選