澤攸電鏡 以多功能性滿足多樣化研究需求,其集成了掃描電鏡(SEM)與透射電鏡(TEM)的部分功能,通過更換樣品臺(tái)與探測(cè)器即可實(shí)現(xiàn)不同模式的切換。
作為 SEM 使用時(shí),加速電壓 5 - 50kV,二次電子分辨率 2.0nm;切換至 TEM 模式后,可對(duì)薄樣品進(jìn)行觀察,點(diǎn)分辨率達(dá) 0.2nm,晶格分辨率 0.14nm。設(shè)備配備高角度環(huán)形暗場(chǎng)探測(cè)器(HAADF),能通過原子序數(shù)襯度成像,清晰觀察納米顆粒的分布。澤攸科研的電鏡解決方案
機(jī)械結(jié)構(gòu)采用大理石底座,有效吸收外界振動(dòng),保證高倍成像時(shí)的穩(wěn)定性。電子光學(xué)系統(tǒng)的透鏡采用無(wú)磁材料制造,減少磁場(chǎng)對(duì)電子束的干擾。參數(shù)表中顯示,其最大樣品傾斜角為 60°,適合進(jìn)行動(dòng)態(tài)原位觀察,如材料在拉伸過程中的微觀結(jié)構(gòu)變化。
面向科研需求,澤攸電鏡 在性能與擴(kuò)展性上表現(xiàn)突出。其采用冷場(chǎng)發(fā)射電子槍,電子束能量穩(wěn)定性優(yōu)于 0.1eV/h,為高分辨率成像與精細(xì)成分分析奠定基礎(chǔ)。
加速電壓 10 - 100kV,可調(diào)節(jié)步長(zhǎng) 0.1kV,滿足不同厚度與成分樣品的觀察需求。配備球差校正器,能將電子束的球差降至最小,使 STEM 模式下的點(diǎn)分辨率達(dá)到 0.08nm,可直接觀察原子排列結(jié)構(gòu)。
設(shè)備支持多種原位實(shí)驗(yàn)附件,如加熱臺(tái)(室溫 - 1000℃)、拉伸臺(tái)(最大拉力 50N),可在電鏡內(nèi)模擬樣品的服役環(huán)境,記錄動(dòng)態(tài)變化過程。真空系統(tǒng)采用全無(wú)油設(shè)計(jì),避免油蒸氣對(duì)樣品的污染,極限真空達(dá) 5×10??Pa。
使用時(shí),需通過專業(yè)培訓(xùn)掌握高級(jí)功能,軟件支持自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集與分析,可批量處理多個(gè)觀察點(diǎn)的圖像與光譜數(shù)據(jù)。適用于國(guó)家實(shí)驗(yàn)室、頂尖高校的前沿研究,如二維材料的原子層表征、催化劑的動(dòng)態(tài)反應(yīng)機(jī)理研究等,助力突破科學(xué)難題。澤攸科研的電鏡解決方案