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三維光學輪廓儀
BEUKER白光干涉光學輪廓儀
ContourX-500BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具
BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具在電子、汽車零部件等工業生產的質檢環節,快速且準確的微觀測量是把控產品質量的關鍵。布魯克 ContourX-500 憑借適配工業場景的性能與便捷操作,成為生產線質檢工位的實用選擇。
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BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具
參數項 | 具體數值 |
橫向分辨率 | 最高可達 0.14μm |
縱向分辨率 | 低至 0.1nm |
縱向測量范圍 | 0.1nm-10mm |
樣品臺尺寸 | 150mm×150mm |
樣品臺承重 | 5kg |
連續測量效率 | 單樣品平均檢測時間<2 分鐘 |
工業對接協議 | 支持 Modbus、Profinet |
數據存儲容量 | 本地可存 1000 組數據 |
工作溫度 | 15-30℃ |
相對濕度 | 20%-70%(無冷凝) |
BEUKER三維光學輪廓儀工業質檢高效工具