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當前位置:首頁產品中心三維光學輪廓儀BEUKER白光干涉光學輪廓儀ContourX-200BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選

BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選

產品簡介

BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選
對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構,布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能,成為微觀測量工作的理想工具。

產品型號:ContourX-200
更新時間:2025-08-26
廠商性質:代理商
訪問量:51
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BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選

對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構,布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能,成為微觀測量工作的理想工具。
產品細節
ContourX-200 采用迷你桌面設計,機身尺寸僅 500mm×380mm×420mm,重量 12kg,可直接放置在普通實驗臺角落,極大節省空間。操作界面為 7 英寸觸控屏,僅保留核心功能按鍵,搭配圖文引導菜單,學生或新手能快速掌握操作。樣品臺為手動調節式,配備刻度標尺,便于直觀判斷樣品移動距離,雖無自動平移功能,但結構簡單可靠,維護成本低。設備光學部件集成度高,鏡頭與光源一體化設計,開箱后連接電源即可使用,無需復雜調試。機身側面設有便攜提手,方便在不同實驗室間移動,滿足多房間教學需求。
產品性能
ContourX-200 采用白光干涉測量技術,能對表面粗糙度 Ra 值 0.01-10μm 的樣品進行有效測量,如塑料樣品的表面紋理、薄金屬片的厚度差。設備測量數據重復性較好,相同條件下多次測量偏差小,適合教學實驗中對比不同樣品特性。測量速度適中,單次小區域(500μm×500μm)掃描時間約 1-2 分鐘,既能完成教學演示,又不會讓實驗過程冗長。此外,支持數據實時顯示,掃描中可動態觀察三維形貌生成,便于教學中講解測量原理。
用材講究
外殼采用輕質高強度工程塑料,具備一定抗摔能力,適合教學環境頻繁移動。光學鏡頭選用高透光率樹脂鏡片,滿足基礎測量需求,且成本更低、不易破碎。樣品臺臺面采用耐磨亞克力材質,表面光滑平整,無需額外夾具,簡化操作步驟。內部電路采用低功耗設計,搭配節能光源,降低耗電量,減少設備發熱。
參數詳情
參數項
具體數值
橫向分辨率
最高可達 0.5μm
縱向分辨率
低至 1nm
縱向測量范圍
1nm-5mm
樣品臺尺寸
100mm×100mm
樣品臺調節方式
手動平移(X/Y 軸)
掃描速度
0.5-5mm/s(可調)
數據接口
USB 2.0
設備重量
12kg
工作溫度
18-28℃
相對濕度
30%-60%(無冷凝)
廣泛用途
在高校教學實驗中,用于材料科學基礎實驗,讓學生學習表面粗糙度測量;在中職機電專業實訓中,幫助學生檢測手工打磨零件的表面質量;在小型科研團隊中,用于新材料初步篩選,如檢測不同配方涂層的厚度均勻性;在中小學科普活動中,觀察樹葉表面、昆蟲翅膀的微觀形貌,激發學生興趣。
使用說明
使用前放置在平穩實驗臺,避免靠近窗戶或空調出風口。連接電源與電腦,安裝配套軟件并完成設備連接。樣品清潔后直接放置在樣品臺中央,通過手動旋鈕移動樣品臺,使測量區域對準鏡頭。選擇 “快速測量" 或 “精細測量" 模式,設置掃描范圍與分辨率,點擊 “對焦" 后啟動測量。測量中避免觸碰設備,結束后導出數據至電腦用于實驗報告。實驗后關閉電源,用干布擦拭樣品臺,鏡頭有灰塵時用專用鏡頭紙輕擦,每學期檢查設備光學部件是否偏移。

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