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三維光學輪廓儀
BEUKER白光干涉光學輪廓儀
ContourX-200BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選
BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構,布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能,成為微觀測量工作的理想工具。
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BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選
參數項 | 具體數值 |
橫向分辨率 | 最高可達 0.5μm |
縱向分辨率 | 低至 1nm |
縱向測量范圍 | 1nm-5mm |
樣品臺尺寸 | 100mm×100mm |
樣品臺調節方式 | 手動平移(X/Y 軸) |
掃描速度 | 0.5-5mm/s(可調) |
數據接口 | USB 2.0 |
設備重量 | 12kg |
工作溫度 | 18-28℃ |
相對濕度 | 30%-60%(無冷凝) |
BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選