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BEUKER三維光學輪廓儀教學科研入門級工具

產品簡介

BEUKER三維光學輪廓儀教學科研入門級工具
在高校基礎科研實驗室與職業教育機構,布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀以高性價比與易操作性,成為微觀測量教學與入門級科研的理想選擇。

產品型號:ContourX-100
更新時間:2025-08-26
廠商性質:代理商
訪問量:46
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BEUKER三維光學輪廓儀教學科研入門級工具

在高校基礎科研實驗室與職業教育機構,布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀以高性價比與易操作性,成為微觀測量教學與入門級科研的理想選擇。
產品細節
ContourX-100 設計極簡,機身尺寸 450mm×350mm×400mm,重量 8kg,可輕松搬運至不同教室。操作界面為基礎按鍵式,無復雜菜單,搭配圖文操作手冊,學生能自主學習操作。樣品臺為開放式設計,無遮擋結構,便于觀察樣品與鏡頭的相對位置,理解測量原理;臺面帶坐標刻度,幫助掌握樣品定位方法。設備光學系統為固定焦距設計,無需頻繁對焦調試;光源為 LED 冷光源,壽命長且不發熱,不會影響樣品溫度。機身側面有透明觀察窗,可直觀看到內部光學部件工作狀態,便于講解設備結構。
產品性能
ContourX-100 采用白光干涉技術,可測量表面粗糙度 Ra 值 0.05-20μm 的樣品,如金屬薄片、玻璃載玻片。測量數據重復性較好,不同學生測量同一樣品的結果差異小,適合對比實驗。測量速度適中,單次小區域(300μm×300μm)掃描約 3-5 分鐘,能讓學生充分觀察測量過程。配套教學版軟件,包含數據采集、基礎分析功能,可導出數據至 Excel,滿足教學報告撰寫需求。
用材講究
外殼采用高強度 ABS 塑料,能承受學生操作中的輕微碰撞。光學鏡頭選用普通光學玻璃,滿足基礎測量需求,損壞后更換方便。樣品臺臺面為耐磨酚醛樹脂板,長期使用不易刮花。內部電路模塊化設計,某一部件故障可單獨更換,降低維修成本。
參數詳情
參數項
具體數值
橫向分辨率
最高可達 1μm
縱向分辨率
低至 5nm
縱向測量范圍
5nm-3mm
樣品臺尺寸
80mm×80mm
樣品臺調節方式
手動旋鈕(X/Y 軸)
光源類型
LED 冷光源(壽命>10000 小時)
數據接口
USB 2.0
設備重量
8kg
工作溫度
18-30℃
相對濕度
25%-65%(無冷凝)
廣泛用途
在高校材料科學基礎實驗中,用于 “材料表面粗糙度測量" 實驗,理解加工工藝對表面的影響;在職業教育機電實訓中,檢測機械零件的表面質量,理解公差概念;在中學科技社團,觀察樹葉、昆蟲翅膀的微觀形貌,激發興趣;在入門級科研中,用于新材料初步測試,如檢測新型涂層的厚度均勻性。
使用說明
放置在水平無振動實驗臺,避免強光照射。連接電源與電腦,安裝教學版軟件并完成連接。學生清潔樣品后放在樣品臺,通過旋鈕移動樣品臺,參考刻度對準測量區域。選擇 “快速測量" 模式,設置掃描范圍,點擊 “開始"。教師可結合實時成像講解白光干涉原理,測量后學生導出數據撰寫報告。實驗后學生關閉電源,用干布擦拭樣品臺,鏡頭有灰塵用專用紙輕擦。教師每學期檢查設備光學部件,每學年更換老化光源。

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