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三維光學輪廓儀
BEUKER白光干涉光學輪廓儀
ContourX-100BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備
BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備在小型五金廠、電子配件廠等小型制造企業,布魯克 ContourX-100 以低成本、易維護的優勢,成為產品質量檢測的入門級設備,幫助企業把控基礎生產質量。
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BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備
參數項 | 具體數值 |
橫向分辨率 | 最高可達 1μm |
縱向分辨率 | 低至 5nm |
縱向測量范圍 | 5nm-3mm |
樣品臺尺寸 | 80mm×80mm |
單次測量時間 | 約 3-5 分鐘(標準參數) |
數據存儲 | 支持 SD 卡(最大 32GB)、本地存 200 組 |
對比功能 | 支持自定義標準數據,自動對比 |
電源要求 | 220V±10%,50Hz |
工作溫度 | 15-32℃ |
相對濕度 | 20%-75%(無冷凝) |
BEUKER三維光學輪廓儀小型制造質檢基礎設備